原子探针断层扫描中的全尖端成像

时间：2013-01

原子探针断层扫描（APT）能够同时揭示针状试样中单个原子的化学特性和三维位置，但视野有限，即只能有效检测到试样的核心。因此，在试样外壳也是感兴趣区域的情况下，分析整个尖端的能力是至关重要的，也是非常需要的。在这篇论文中，我们证明，在分析从基底外延生长的III-V纳米线时，距离分析尖端仅微米的平坦基底的存在会改变场分布和离子轨迹，这提供了额外的图像压缩，可以分析整个试样。一系列实验结果，包括场解吸图、元素分布和晶体学特征，清楚地表明了整个尖端已经成像的事实，这得到了静电模拟的证实。